摘要：SURTRONICDUO 粗糙度仪 DUO为英国泰勒公司推出的新款便携式表面粗糙度仪。DUO通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。

摘要：Surtronic25便携式粗糙度轮廓仪技术参数. 传感器 (1) 测量量程： 300um （2) 分辨率： 0.01um (3)测量精度： 2%读数值+LSDum (4) 传感器类型： 电感 （5）测量力： 150-300mg (6)金刚石测针： 侧头半径5um . 测量参数 Ra，Rz，Rt，Rp，Rmr，Rpc，Rsm，

摘要：Form Talysurf Intra经济型粗糙度轮廓仪技术参数 . 传感器 (1) 类型： 电感 (2) 测量量程：1mm (同时测量粗糙度和轮廓，使用60mm长测杆) 2mm (使用120mm长测杆，选购) (3) 分辨率： 1mm量程时16nm，0.2mm量程时3.2nm (4) 量程与分辨率之比： 65,536:1 (5) 测量

摘要：Form Talysurf Inductive表面粗糙度轮廓仪技术参数 (1) 测量长度： 0.1mm-120mm (2) 驱动： 可使用操纵杆或计算机驱动 主要特点 可编程自动操作，便于批量测试

摘要：Form Talysurf PGI表面粗糙度轮廓仪技术参数 (1) 类型： 位相光栅干涉 (2) 测量量程： 4mm (使用60mm长金刚石测杆，同时测量粗糙度和轮廓) 8mm (使用120mm长球形测杆，测量轮廓) 主要特点 传动长度200毫米或120毫米 用于通用测量/轴承测量/光学非球面测量

摘要：Talyrond 365圆度仪/圆柱度仪技术参数 1. 测量能力 (1) 最大工件直径： 400mm （可扩展至500毫米） 2. 工作台和主轴 (1) 类型： 空气轴承 (2)调心调平方式： 专利技术的三点支撑

摘要：Talysurf CCI白光干涉表面轮廓仪技术参数(1) 类型： CCI 干涉（相干相关干涉） (2) 分辨率： 0.1 A (3) 测量点数： 1,048,576 ( 1024 x 1024 点阵 ) 更详细参数和有关应用问题请垂询办事处产品负责人。 主要特点•专利的相干相关算法 •0.01nm分辨率 

摘要：Talysurf CLI2000三维表面形貌仪技术参数 主要特点.可配置电感接触测头、激光测头或光学共聚焦测头 .可进行接触或非接触三维测量 .强大的三维分析软件 仪器介绍Talysurf CLI 2000多测头三维形貌轮廓仪，可配置光学共轴、激光、及电感传感器。